X선 광전자 분광 분석장치

시료 표면에 X선을 조사해, 표면으로부터 발생하는 광전자를 측정하는 것으로, 조성, 화학 결합 상태가 압니다. 시료로부터 발생하는 광전자의 운동 에너지는, 물질에 의해 고유의 에너지를 가져, 이 에너지를 측정하는 것으로, 시료를 구성하는 원소를 분류할 수 있습니다.특히 케미컬 시프트라고 불리는 에너지의 변화를 검출할 수 있으면, 원소의 화학 결합 상태를 알 수 있습니다.

X선이 들어가는 깊이가 표면으로부터 수 nm과 얕기 때문에, 최표면 영역에 관한 분석이 가능합니다. 원소는 원소 주기표의 5번의 B(붕소)에서 90번의 U(우라늄)까지의 폭넓은 원소가 검출할 수 있습니다.

시료실은 매우 고진공 때문에, 가스 방출 등이 예상되는 시료는 넣을 수 없습니다. 입자 상태의 물질은, 입자 사이에 전하가 모여 정확한 결과를 얻을 수 없게 되어, 시료에 따라서는 사전 처리가 필요합니다.

장치 제품번호:APEX 알 백·파이사제
도입 세월:2001년 12월

• 시험, 분석 또는 조제에 대해서 특별한 재료, 노력 등을 필요로 하는 것 및 연구 또는 조사의 수수료의 이마는, 실비 상당액으로 한다.
• 특히 기한을 정해 시급한 것의 수수료 또는 사용료의 액수는, 정하는 액수의 2배의 이마로 한다.
• 요코하마 시내에 사무소 또는 사업소를 가지는 사람이고중소기업 기본법 제2조에 있어서 정해진 중소기업(외부 사이트)이외로부터의 의뢰에 관련된 수수료 또는 사용료의 액수는, 정하는 액수의 1.3배의 액수(100엔 미만의 끝수가 있을 때는, 그 끝수 금액을 100엔에 올림한다.)과 한다.
• 요코하마 시내에 주소를 가지지 않는 사람 또는 시내에 사무소 혹은 사업소를 가지지 않는 개인 혹은 법인 및 그 외의 단체로부터의 의뢰에 관련된 수수료 또는 사용료의 이마는, 정하는 액수의 1.5배의 이마(100엔 미만의 끝수가 있을 때는, 그 끝수 금액을 100엔에 올림한다.)과 한다.