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주된 시험 기기

최종 갱신일 2024년 6월 28일

본 사업은 종료되었습니다

요코하마시 공업 기술 지원 센터는, 2024년 3월 31일을 기해 폐지했습니다.장 라쿠노고 관심어린 애정, 정말 감사합니다.이하는, 과거의 정보이므로 주의해 주세요.

공업 기술 지원 센터가 소유하는 주된 시험 기기입니다.각 시험 기기나 의뢰 시험에 관한 문의처는, 의뢰 시험을 이용하시는 순서의 페이지를 봐 주세요.

X선 회절장치

X선 회절장치의 외관

X선 회절장치는, 시료에 X선을 조사해 회절한 X선을 계측하는 것으로 시료 안의 결정에 관한 정보를 얻을 수 있는 분석장치입니다.

X선 회절장치의 상세 설명 페이지


열분석장치

열분석장치의 외관

열분석장치는, 시료의 온도에 대한 물성을 평가하는 장치입니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2017년 자전거 등 기계 진흥 사업에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

열분석장치의 상세 설명 페이지


이온미린그 장치

이온미린그 장치의 외관

이온미린그 장치는, 전자현미경 등으로 시료의 단면 관찰을 실시할 때에 사전 처리로서 이용되는 단면 제작장치입니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2016년 자전거 등 기계공업 진흥 보조 사업(RING!RING! 프로젝트)”에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

이온미린그 장치의 상세 설명 페이지


자동 연마장치

자동 연마장치의 외관

자동 연마장치는, 표면 처리 제품 등의 단면 관찰을 실시할 때에 관찰면의 연마를 실시하는 사전 처리장치입니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2016년 자전거 등 기계공업 진흥 보조 사업(RING!RING! 프로젝트)”에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

자동 연마장치의 상세 설명 페이지


쇼쿠하리시키효멘케이조*테이키

쇼쿠하리시키효멘케이조*테이키의 외관

쇼쿠하리시키효멘케이조*테이키는, 측정 표면에 쇼쿠하리의 첨단을 두어, 표면을 따라 쇼쿠하리를 이동해, 표면의 요철에 의해 상하하는 양을 전기적으로 확대하고 측정하는 장치입니다.이차원 표면 엉성함 해석 및 단차 측정 등을 실시할 수 있습니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2013년 소형자동차 등 기계공업 진흥 보조 사업(RING!RING! 프로젝트)”에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

쇼쿠하리시키효멘케이조*테이키의 상세 설명 페이지


경도 시험기

hardness

경도 시험기는, 마사시 각뿔의 다이아몬드압 아이를 시료 표면으로 스텝적으로 연속해서 하중을 증가시켜, 밀어넣어 깊이를 측정해, 경도나 물성을 조사하는 장치입니다.

경도 시험기의 상세 설명 페이지


마찰 시험기(볼 온 디스크)

friction

마찰 시험기는, 시료 표면에 볼을 태우고, 하중을 걸어, 시료를 태운 디스크가 회전해, 볼과 시료와의 마찰력으로부터 마찰 계수를 산출하는 장치입니다.

마찰 시험기(볼 온 디스크)의 상세 설명 페이지


마찰 마모 시험기

Wear tester


마찰 마모 시험기는, 내마모성이나 내 인화성을 평가하는 볼(핀)·온·디스크 마찰 시험과, 박막의 강도나 밀착성을 평가하는 스크래치 시험을 실시할 수 있습니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2012년 소형자동차 등 기계공업 진흥 보조 사업(RING!RING! 프로젝트)”에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

마찰 마모 시험기의 상세 설명 페이지


전자선 마이크로 애널라이저(EPMA)

EPMA

전자선 마이크로 애널라이저는, 가늘게 짠 전자선을 시료에 조사해, 표면으로부터 발생한 특성 X선을 검출하는 것으로, 물질을 구성하고 있는 원소를 조사하는 장치입니다.
전자선 마이쿠로아나라이자(EPMA)의 상세 설명 페이지


전계 방사형 주사 전자현미경(FE-SEM)

전계 방사형 주사 전자현미경(FE-SEM)

전자현미경은, 전자선을 시료에 조사해, 표면으로 반사된 2차 전자 등을 검출하는 것으로, 표면의 요철을 관찰하는 장치입니다.

전계 방사형 주사 전자현미경(FE-SEM)의 상세 설명 페이지


에리프소메타(ellipsometer)

에리프소메타

에리프소메타는, 물질의 표면으로 빛의 입사광, 반사광의 편광 상태의 변화를 측정해, 박막의 막후나 굴절률을 조사하는 장치입니다.

에리프소메타의 상세 설명 페이지


현미경

microscope

현미경은, CCD 카메라에 렌즈가 장착되고 있어, 다양한 배율로 시료를 관찰하는 장치입니다.또 간이적인 삼차원 이미지의 합성도 가능합니다.

현미경의 상세 설명 페이지


형광 X선 막후 합계

형광 X선 막후 합계의 외관

형광 X선 막후 합계는, 도금 처리 등이 베풀어진 박막의 시료에 X선을 조사해, 거기서 발생한 X선을 검출해, 박막의 막후를 조사하는 장치입니다.

형광 X선 막후 합계의 상세 설명 페이지


소금물 분무 시험기

소금물 분무 시험 기외 관

소금물 분무 시험기는, 장치 내를 가온, 고습도에 유지해, 시료에 염화 나트륨 수용액을 분무해, 재료의 내 부식성을 조사하는 장치입니다.
이 장치는, 공익재단법인 JKA의 “2014년 자전거 등 기계공업 진흥 보조 사업(RING!RING! 프로젝트)”에 의한 보조를 받고 도입했습니다.

소금물 분무 시험기의 상세 설명 페이지


트네온트네시트시겐키

Constant temperature tester


트네온트네시트시겐키는, 온도와 습도를 일정하게 제어하는 것이 가능하고, 온 습도의 조건에 의해 변화를 받는 재료의 특성을 조사하는 장치입니다.

트네온트네시트시겐키의 상세 설명 페이지


푸리에 변환 적외 분광 분석장치(FT-IR)

FT-IR 외관

푸리에 변환 적외 분광 분석장치는, 시료에 적외광을 조사해, 투과 또는 반사해 온 빛을 측정하는 것으로, 주로 유기물의 구조 분석을 실시하는 장치입니다.


푸리에 변환 적외 분광 분석장치(FT-IR)의 상세 설명 페이지

이 페이지로의 문의

경제국 중소기업 진흥부 중소기업 진흥과

전화:045-671-4236

전화:045-671-4236

팩스:045-664-4867

메일 주소:ke-keiei@city.yokohama.jp

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